當前位置：首頁 > 技術文章
在半導體制造與微電子領域，晶圓表面涂層厚度的精確控制直接決定了器件性能與良率。傳統(tǒng)膜厚測量方法依賴人工取樣或離線檢測，存在效率低、破壞性、數(shù)據(jù)片面性等痛點。而光學膜厚儀憑借其非接觸、高精度、全自動化測繪能力，已成為晶圓涂層厚度檢測的核心工具...
光學厚度測量儀是一種用于測量物體的厚度、膜層厚度和光學性質(zhì)的設備。它基于光學原理，利用光的反射或透射特性來測量不同材料的厚度。正確使用光學厚度測量儀需要遵循以下步驟：1.準備工作：將設備放置在水平表面上，并打開儀器電源；2.校準儀器：對于新設備，首先需要進行校準。校準時應選擇一個已知光學厚度的參考樣品，將其放入設備中，并按照儀器的說明書進行操作。在校準過程中，應檢查儀器是否能夠正確讀取樣品的厚度值；3.放置待測物體：將待測物體放入設備中，注意使其與設備表面保持垂直。如果要測量...
非接觸式電阻測試設備是一種可用于對電路板等電子元器件進行檢測的高效工具。這種設備不需要與電路板直接接觸，而是利用電磁場進行檢測，從而有效地避免了可能造成損壞的接觸測試過程。下面，我們來看看如何正確地使用非接觸式電阻測試設備。步驟一：檢查設備和測試對象的狀態(tài)在使用前，首先需要檢查設備和測試對象的狀態(tài)。檢查設備是為確保其正常工作，可以通過開啟儀器并對其進行自檢；檢查測試對象是為確認是否具有正常工作的電流，以及測試對象是否完整。步驟二：設備預熱非接觸式電阻測試設備需要預熱，這一過程...
多層膜厚度測試是指對由多個薄膜層疊加而成的復合膜進行厚度測量。由于多層膜通常由幾個不同材料的薄膜層組成，因此測量其厚度需要考慮不同層之間的界面影響以及每個單獨層的厚度。多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化產(chǎn)品。它采用先進的超聲波技術，實現(xiàn)了較好的測量精度，具有優(yōu)秀重復性和再現(xiàn)性。產(chǎn)品可以在任何生產(chǎn)環(huán)境中操作。附帶的Windows應用軟件管理數(shù)據(jù)傳輸和自動超聲波波形分析。目前，產(chǎn)品可應用于在線膜厚測量、測氧化物、SiNx、感光保護膜和半導體膜。同時多層膜厚度...
金屬鍵合是一種廣泛應用于制造業(yè)中的連接技術，它可以將兩個或多個金屬部件牢固地連接在一起。這種技術被廣泛應用于汽車、航空、工程和電子行業(yè)中的制造過程中。金屬鍵合設備是實現(xiàn)金屬鍵合技術的關鍵部分。常見的金屬鍵合設備包括：1.焊接機：焊接機是一種將金屬部件加熱至熔點的設備，并使用填充材料來填補縫隙使兩者連接的設備。常見的焊接機包括氬弧焊機、激光焊機和摩擦焊機等；2.釬焊機：釬焊機是一種將金屬部件加熱至釬劑熔點的設備，并使用釬劑來連接金屬部件的設備。常見的釬焊機包括火焰釬焊機和感應釬...
光學膜厚儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器。它主要基于光學干涉的原理，可以在不破壞被測物表面的情況下進行非接觸式測量。由于其高精度、快速、穩(wěn)定等特點，廣泛應用于電子、光電、化學、材料科學等領域中。光學膜厚儀的最大特點就是其測量精度非常高，一般可達nanometer級別。同時，該儀器還具有快速測量、非接觸式測量和測量范圍廣等優(yōu)勢。對于快速測量來說，它通常只需要幾秒鐘甚至更短時間就可以完成一次測量，而且可以實現(xiàn)自動化測量，極大地提高了工作效率。對于非接觸式測量來說，這種測量方式避免了...