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        光學(xué)膜厚儀晶圓涂層自動(dòng)測(cè)繪的精密之眼
        2025-07-24

        在半導(dǎo)體制造與微電子領(lǐng)域,晶圓表面涂層厚度的精確控制直接決定了器件性能與良率。傳統(tǒng)膜厚測(cè)量方法依賴人工取樣或離線檢測(cè),存在效率低、破壞性、數(shù)據(jù)片面性等痛點(diǎn)。而光學(xué)膜厚儀憑借其非接觸、高精度、全自動(dòng)化測(cè)繪能力,已成為晶圓涂層厚度檢測(cè)的核心工具...

        • 2023-07-18

          為了制備高精度的薄膜電阻測(cè)試儀,并對(duì)其性能進(jìn)行評(píng)估,可以按照以下步驟進(jìn)行研究:1.設(shè)計(jì)和制備:首先,根據(jù)需求和目標(biāo)設(shè)計(jì)并確定電阻測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)、尺寸和材料。然后,利用相應(yīng)的加工方法(如機(jī)械加工、3D打印等)制造出所需組件或零部件。注意,在設(shè)計(jì)過(guò)程中要考慮到機(jī)械剛性、穩(wěn)定性以及與被測(cè)樣品接觸時(shí)的非破壞性。2.裝配和調(diào)試:將各個(gè)組件或零部件裝配在一起,并進(jìn)行必要的調(diào)試。確保所有組件之間有良好的連接,并能夠正常運(yùn)行。3.性能評(píng)估方法選擇:選擇適當(dāng)?shù)姆椒▉?lái)評(píng)估薄膜電阻測(cè)試儀的性能。以下...

        • 2023-07-12

          隨著柔性電子學(xué)領(lǐng)域的快速發(fā)展,對(duì)柔性有機(jī)半導(dǎo)體材料進(jìn)行準(zhǔn)確地電阻測(cè)試成為一個(gè)關(guān)鍵問題。傳統(tǒng)聯(lián)系式接觸方式往往會(huì)對(duì)材料產(chǎn)生損傷或干擾,而且無(wú)法對(duì)特定區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。因此,開發(fā)一種非破壞性、高精度的薄膜電阻測(cè)試儀具有重要意義。設(shè)計(jì)原理:本文提出了一種基于納米壓痕技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度電阻測(cè)試的方法。首先,在設(shè)計(jì)中考慮到納米級(jí)位移測(cè)量系統(tǒng)的需求,采用了高精度壓頭和位移傳感器。其次,在測(cè)試過(guò)程中,通過(guò)控制壓頭與樣品之間的接觸力,使得薄膜與導(dǎo)電底座緊密貼合,并保持穩(wěn)定的電阻值。最后,利用位移...

        • 2023-07-07

          隨著科技的發(fā)展,對(duì)材料力學(xué)性能進(jìn)行準(zhǔn)確、可靠的表征變得越來(lái)越重要。而納米壓痕儀作為一種先進(jìn)的測(cè)試儀器,在材料力學(xué)性能表征領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。本文將探討它在這方面所具有的突出優(yōu)勢(shì)以及其應(yīng)用案例。納米硬度測(cè)試:通過(guò)使用納米壓痕儀進(jìn)行硬度測(cè)試,可以快速、準(zhǔn)確地評(píng)估材料在微觀尺度下的硬度特性。傳統(tǒng)上,硬度測(cè)試主要依賴于顯微鏡觀察和手動(dòng)測(cè)量,但這種方法存在一定局限性。相比之下,本設(shè)備利用掃描探針和高精密電子浮升系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化測(cè)量,并且可以實(shí)時(shí)記錄載荷-位移曲線數(shù)據(jù)。這使得我們不僅可以...

        • 2023-07-04

          什么是納米位移電容傳感器納米位移電容傳感器由傳感器探頭、放大器和電源組成。具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、非接觸、頻響寬等特點(diǎn),被認(rèn)為是*性的微位移傳感技術(shù),廣泛用于納米位移與定位控制系統(tǒng)。納米位移電容傳感器的工作原理納米位移電容傳感器是基于理想平板電容原理設(shè)計(jì)研發(fā)的,被測(cè)物體與傳感器各自作為一個(gè)平板電極。給傳感器一個(gè)持續(xù)穩(wěn)定的交流電,交流電壓的振幅變化與電容到被測(cè)物體之間的距離成正比。交流電經(jīng)過(guò)解調(diào),可以測(cè)出位移量。電容式位移傳感器具有信噪比大、靈敏度高、頻響寬、非線性小、精度穩(wěn)定性好、無(wú)損...

        • 2023-06-29

          白光干涉儀是一種常見的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域。選擇一款好用的白光干涉儀需要考慮多個(gè)因素,下面將對(duì)這些因素進(jìn)行詳細(xì)介紹。選擇本儀器需要考慮的因素如下:1.要考慮的是測(cè)量范圍。不同型號(hào)的具有不同的測(cè)量范圍,需要根據(jù)自己的實(shí)際需求來(lái)選擇。如果需要測(cè)量較小的物體,則可以選擇測(cè)量范圍較小的儀器;如果需要測(cè)量較大的物體,則需要選擇測(cè)量范圍比較大的儀器。此外,還需要注意測(cè)量精度和分辨率,以確保能夠滿足實(shí)際需求。2.需要考慮的是儀器的穩(wěn)定性和可靠性。白光干涉儀需要在較高...

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